Xradia 800 Ultra 超高分辨率无损三维成像系统

拥有蔡司Xradia 800 Ultra X 射线显微镜，您可以实现低至50 nm 的空间分辨率，这是业界实验室X射线成像系统前沿的水平。由于无损 3D 成像在如今的突破性研究中有重要的作用，您将会体验到出众的优异性能和灵活性。创新的 Xradia Ultra 系列具有吸收衬度和相位衬度的功能，X射线能量为 8KeV，并使用独有的由同步辐射光学器件改造而来的附件。 Xradia 810 Ultra 在研究材料随时间的演变（4D）中，可实现出众的原位和4D性能，拓展了3D X射线成像技术在材料科学，生命科学，自然资源和各种工业应用领域的局限。

Xradia 800 Ultra 的分辨率低至50 nm，使微观结构和进程可视化，这些是传统实验室 X 射线技术不能实现的。在 X 射线能量为8 KeV下运行，极佳的穿透力和衬度适合各种材料，使您可以观察自然状态下的结构和材料。

集成相位衬度技术的 Xradia 800 Ultra 运用 Zernike 方法在吸收衬度低时可增强晶界和材料交界处的可见度，使未染色的超结构和纳米结构可视化。

蔡司Xradia 800 Ultra 采用类似横切法的无损技术，提供可信赖的内部 3D 信息。大工作距离和空气样品环境使您可以轻松的进行原位研究。

• 无损三维 X 射线成像允许在直接微观结构观察下对同一样品进行重复成像

• 在原位设备中样品成像保持低至 50nm 的高分辨率

• 用于断层扫描重构的图像自动调整功能

• 视野可在 15 至 60 μm 的范围内进行切换

• 吸收衬度和 Zernike 相位衬度成像模式

• 在实验室中开发、准备、测试你计划的同步实验，让有限的同步辐射时间更加有效率

• 搭配 Scout-and-Scan 控制系统和基于工作流程的用户界面，尤其适合研究人员水平各不相同的中心实验室

材料科学
对于高级材料的开发：研究和预测材料特性和演变。表征复合材料，例如燃料电池，聚合物及复合材料的三维结构。测量和确定孔隙，裂缝，相位分布等。通过吸收衬度成像来区分密度不同的材料。

原材料
石油与天然气钻井的可行性研究：进行虚拟岩心分析，缩短获得研究结果的时间。相比传统的岩心分析，测量地质样品的纳米孔结构只需要花费几个小时。使用 Ultra 系列显微镜进行流体模型纳米级分析以获得亚微米成像。了解在负载下的地质力学，研究拉伸压力对金属的影响，或分析在压力下的陶瓷。

生命科学研究
Xradia 800 Ultra可提供生物样品如骨和软组织的微观组织结构，分辨率低至50纳米。具有优良的对比度，可对多种材料进行纳米级三维X射线成像，如应用于药物传递的聚合物、组织样品、用于组织工程的支架。

电子学
Xradia 800 Ultra为半导体样品的电子封装研究和开发提供可视化成像。

进一步了解在三维负载情况下纳米结构所发生的形变

蔡司Xradia Ultra新型样品原位加载台利用无损3D成像为您提供出色的纳米级的压缩，拉伸以及压痕等原位力学性能测试，可以在负载情况下，实现50纳米空间分辨率的研究样品内部结构三维演化过程。了解与局域纳米特征相关的形变和失效如何发生。为现有的力学测试方法提供补充，实现深入观察多个尺度范围的行为。

全新的 Scout-and-Scan 控制系统

创新的蔡司 Scout-and-ScanTM 控制系统展示了Xradia Ultra 系列在易用性和生产力上的巨大提升。Scout-and-Scan 简化了样品和扫描设置的过程，提升了Xradia Ultra 的生产力。

基于工作流程的用户界面将引导您调整样品、寻找兴趣区和设置三维扫描的过程。配置使您可以对同一样品的不同兴趣区进行多重扫描，或是结合不同的成像模式。对于研究人员水平各不相同的中心实验室，使用这种易用的系统尤其合适。

蔡司推荐您使用Object Research Systems (ORS) 的 Dragonfly Pro

此解决方案可为X射线，FIB-SEM，SEM以及氦离子显微镜获取的三维数据进行可视化三维重构和分析。

基于Visual SI Advanced系列, Dragonfly Pro 能提供高清解析度可视化技术和优异的图形处理技术。Dragonfly Pro支持通过简单易用的Python脚本进行定制。用户可以完全掌控3D数据后期处理环境和流程